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當(dāng)前位置：成都藤田光學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>OTSUKA/日本大塚
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計?離線型可以檢查薄膜等表面膜厚不均可以快速且高精度地進行全面測量膜厚測量的專門制造商所提供的充實支持分光測量進行高精度的膜厚測量...
日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計?在線型采用線掃描方式實現(xiàn)了全面無“漏"的膜檢查。膜厚測量的專門制造商所提供的充實支持高速?高精度地測量成為可能采用抗晃動的...
日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD這是從紫外線到近紅外區(qū)域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內(nèi)可以進行分光光譜測量。通過標準裝置的光纖，可以在不...
日本OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測器
日本OTSUKA大塚智能膜厚儀 SM-100系列「便攜式手提類型」1.1公斤，輕便易攜帶「高精度測量＆簡單測量」最薄0.1 μm直到可以測量而無需刻度線「多層膜...
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計FE-300F系列這是一款通過高精度的光干涉法進行膜厚測量的小型且價格低廉的膜厚計，實現(xiàn)了簡單操作。我們采用了將所需設(shè)備集成在...
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計OPTM系列OPTM(オプティム)是利用顯微分光進行微小區(qū)域絕對反射率測量的裝置，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的膜厚和光學(xué)常數(shù)解析。可以非破...
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